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UNE-EN IEC 60352-9:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-05-01

Conexiones sin soldadura. Parte 9: Conexiones soldadas por ultrasonidos. Requisitos generales, métodos de ensayo y guía práctica. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2024.)

UNE-EN IEC 63305:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-05-01

Acústica submarina. Calibración de receptores vectoriales de ondas acústicas en el rango de frecuencias de 5 Hz a 10 kHz (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2024.)

UNE-EN IEC 60939-3:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-05-01

Unidades de filtro pasivo para la supresión de perturbaciones electromagnéticas. Parte 3: Unidades de filtro pasivo para las que son adecuados los ensayos de seguridad (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2024.)

UNE-EN IEC 80601-2-26:2020/A1:2024  UNE

Estado: Vigente / 2024-05-01

Equipos electromédicos. Parte 2-26: Requisitos particulares para la seguridad básica y el funcionamiento esencial de los electroencefalógrafos. (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2024.)

UNE-EN 175201-804:1999  UNE

Estado: Vigente / 2024-02-15

Especificación particular: Conectores circulares. Conectores redondos, diámetro 1,6 mm con acoplamiento roscado. (Ratificada por AENOR en junio de 2000)

UNE-EN 175300:1997  UNE

Estado: Vigente / 2024-02-15

Especificación intermedia: Conectores rectangulares para frecuencias por debajo de 3 MHz.

UNE-EN 175101-802:1999  UNE

Estado: Vigente / 2024-02-15

Especificación particular: Conectores de dos partes para circuitos impresos con un gran número de contactos sobre una rejilla base de 2,54 mm, en 3 o 4 filas. (Ratificada por AENOR en junio de 2000)

UNE-EN 140200:1996  UNE

Estado: Vigente / 2021-09-22

Especificación intermedia: Resistencias fijas. (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)

UNE-EN 140201:1996  UNE

Estado: Vigente / 2021-09-22

Especificación marco particular: Resistencias fijas (nivel de aseguramiento de la calidad S). (Ratificada por AENOR en julio de 1998.)

UNE-EN 140200:1996/A1:2001  UNE

Estado: Vigente / 2016-11-08

Especificación intermedia: Resistencia fijas (Ratificada por AENOR en diciembre de 2001)

UNE-EN 61676:2003 ERRATUM  UNE

Estado: Vigente / 2003-10-24

Equipos electromédicos. Instrumentos dosimétricos usados para mediciones no invasivas de la tensión del tubo de rayos X en radiología de diagnóstico.

UNE-EN 60191-6-2:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-10-10

Normalización mecánica de dispositivos semiconductores. Parte 6-2: Reglas generales para la preparación de los diseños de los paquetes de dispositivos semiconductores de montaje en superficie. Guía de diseño para paquetes de terminales de columnas y bolas de paso 1,50 mm, 1.27 mm y 1,00 mm

UNE-EN 60191-6-4:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-10-01

Normalización mecánica de los dispositivos semiconductores. Parte 6-4: Reglas generales para la preparación de esquemas de encapsulados de dispositivos semiconductores para montaje en superficie. Método de medida para dimensiones de paquete de rejilla matricial de bolas (BGA). (Ratificada por AENOR en octubre de 2003)

UNE-EN 61676:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-07-30

Equipos electromédicos. Instrumentos dosimétricos usados para mediciones no invasivas de la tensión del tubo de rayos X en radiología de diagnóstico.

UNE-EN 61076-2-102:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-06-20

Conectores para equipos electrónicos. Parte 2-102: Conectores circulares de calidad asegurada. Especificación particular para clavijas y bases para fuentes externas de alimentación en baja tensión.

UNE-EN 61076-4-113:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-06-01

Conectores para equipos electrónicos. Conectores para tarjetas impresas. Parte 4-113: Especificación particular para conectores en dos partes que tienen cinco filas con una cuadrícula de 2,54 mm para tarjetas impresas y paneles de fondo en aplicaciones en bus. (Ratificada por AENOR en junio de 2003)

UNE-EN 60749-11:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-05-30

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 11: Variaciones rápidas de temperatura. Método de los dos baños.

UNE-EN 60749-10:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-05-30

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 10: Choques mecánicos.

UNE-EN 60749-2:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-05-30

Dispositivos de semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 2: Baja presión atmosférica.

UNE-EN 60512-25-2:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-05-30

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 25-2: Ensayo 25b: Atenuación (pérdida de inserción).

UNE-EN 60512-11-12:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-04-25

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-12: Ensayos climáticos. Ensayo 11m: Ensayo cíclico de calor húmedo.

UNE-EN 60512-11-13:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-04-25

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-13: Ensayos climáticos. Ensayo 11n: Estanquidad frente a gases, conexiones arolladas sin soldadura.

UNE-EN 60512-11-10:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-04-25

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-10: Ensayos climáticos. Ensayo 11j: Frío.

UNE-EN 60512-11-11:2003  UNE

Estado: Vigente / 2003-04-25

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-11: Ensayos climáticos. Ensayo 11k: Baja presión atmosférica.

UNE-EN 60122-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2003-03-01

Resonadores de cuarzo con aseguramiento de la calidad. Parte 1: Especificación genérica. (Ratificada por AENOR en marzo de 2003)

UNE-EN 61847:2003 ERRATUM  UNE

Estado: Vigente / 2003-02-21

Ultrasonidos. Sistemas quirúrgicos. Medida y declaración de las características básicas de salida.

UNE-EN 62044-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2003-01-01

Núcleos de material magnético blando. Métodos de medida. Parte 1: Especificación genérica. (Ratificada por AENOR en enero de 2003)

UNE-EN 61523-2:2002  UNE

Estado: Vigente / 2003-01-01

Normas para el cálculo del retardo y de la potencia. Parte 2: Especificación para el cálculo del pre-diseño del retardo en librerías CMOS ASIC. (Ratificada por AENOR en enero de 2003)

UNE-EN 60512-1-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 1-1: Examen general. Ensayo 1a: Examen visual.

UNE-EN 60512-1-2:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 1-2: Examen general. Ensayo 1b: Examen de dimensión y masa.

UNE-EN 60512-2-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 2-1: Ensayos de continuidad eléctrica y resistencia de contacto. Ensayo 2a: Resistencia de contacto. Método de nivel de milivoltios.

UNE-EN 60512-6-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 6-1: Ensayos de esfuerzos dinámicos. Ensayo 6a: Aceleración constante.

UNE-EN 60512-6-2:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 6-2: Ensayos de esfuerzos dinámicos. Ensayo 6b: Sacudida.

UNE-EN 60512-6-3:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 6-3: Ensayos de esfuerzos dinámicos. Ensayo 6c: Choque.

UNE-EN 60512-6-4:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 6-4: Ensayos de esfuerzos dinámicos. Ensayo 6d: Vibraciones (sinusoidales).

UNE-EN 60512-11-2:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-2: Ensayos climáticos. Ensayo 11b: Ensayo combinado/secuencial de frío a baja presión atmosférica y calor húmedo.

UNE-EN 60512-11-3:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-3: Ensayos climáticos. Ensayo 11c: Ensayo continuo de calor húmedo.

UNE-EN 60512-11-4:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-4: Ensayos climáticos. Ensayo 11d: Variaciones rápidas de temperatura.

UNE-EN 60512-11-5:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 11-5: Ensayos climáticos. Ensayo 11e: Crecimiento de hongos.

UNE-EN 60512-2-3:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 2-3: Ensayos de continuidad eléctrica y de resistencia de contacto. Ensayo 2c: Variación de la resistencia de contacto.

UNE-EN 60512-2-6:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 2-6: Ensayos de continuidad eléctrica y de resistencia de contacto. Ensayo 2f: Continuidad eléctrica del alojamiento (cubierta).

UNE-EN 60512-3-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 3-1: Ensayos de aislamiento. Ensayo 3a: Resistencia de aislamiento.

UNE-EN 60512-4-2:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 4-2: Ensayos de esfuerzo dieléctrico. Ensayos 4b: Descargas parciales.

UNE-EN 60512-4-3:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 4-3: Ensayos de esfuerzo dieléctrico. Ensayos 4c: Tensión de prueba para los tambores engastados preaislados.

UNE-EN 60512-5-1:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 5-1: Ensayos de corriente límite. Ensayo 5a: Calentamiento.

UNE-EN 60512-5-2:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-16

Conectores para equipos electrónicos. Ensayos y mediciones. Parte 5-2: Ensayos de corriente límite. Ensayo 5b: Tasa de reducción de la intensidad en función de la temperatura.

UNE-EN 60747-16-3:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-12-01

Dispositivos semiconductores. Parte 16-3: Circuitos impresos de microondas. Convertidores de frecuencia. (Ratificada por AENOR en diciembre de 2002)

UNE-EN 61076-4-108:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-11-01

Conectores para equipos electrónicos. Parte 4-108: Conectores para tarjetas impresas con aseguramiento de la calidad. Especificación particular para conectores de cable a placa, con un paso modular de 25 mm y función de blindaje integrada, apropiado para densidad de empaquetado transversal de 15 mm, que tenga una rejilla básica de 2,5 mm de acuerdo con la Norma CEI 60917-1. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

UNE-EN 61076-4-110:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-11-01

Conectores para equipos electrónicos. Parte 4-110: Conectores para tarjetas impresas con aseguramiento de la calidad. Especificación particular para el sistema de conector de cable con cerrojo con una rejilla básica de 2,0 mm que incluya la función completa de blindaje y cerrado. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)

UNE-EN 61967-6:2002  UNE

Estado: Vigente / 2002-11-01

Circuitos integrados. Mediciones de las emisiones electromagnéticas de 150 kHz a 1 GHz. Parte 6: Mediciones de emisiones conducidas. Método de sonda magnética. (Ratificada por AENOR en noviembre de 2002)